日置C測試儀3504-40 15901492495ttt封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等高速測量2ms 能根據C 和D （損耗系數*2）的

日置C測試儀3504-40 15901492495ttt


封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等







高速測量2ms
能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
對應測試線，比側儀功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件




測量參數
Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ）

測量范圍
C:0.9400pF～20.0000mFD:0.00001～1.99000

基本確度
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數

測量頻率
120Hz, 1kHz

測量信號電平
恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1 V測量范圍:CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)

輸出電阻
5Ω（開路端子電壓模式,上述測量范圍以外）

顯示
發光二級管 （6行表示，滿量程計算器根據量程而定）

測量時間
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同

機能
4端子控制檢測功能（僅限3504-60），BIN測量（除去3504-40），觸發同時輸出，儲存測量條件，比較測量值的場強，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標準裝備），GP-IB接口（3504-40除外）

電源
AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA

體積及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件
電源線×1，預備電源保險絲×1，接地適配器×1
不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具及探頭:
SMD測試冶具 9699,底部 SMD電極操作頻率:DC～120MHz測量對象尺寸：W:1.0～4.0mm H:1.5mm
SMD測試冶具 9677,側面 SMD 電極操作頻率:DC～120MHz 測量對象尺寸:3.5±0.5mm
SMD測試冶具 9263,DC～5 MHz, 直結型
測試冶具 9262,DC～5 MHz, 直結型
測試冶具 9261,DC～5 MHz, 1 m
針型測試探頭 9143,DC～5 MHz, 1 m
4端子測試探頭 9140,DC～100 kHz, 1 m GP-IB連接電纜 9151-02 2m 長




打印機 9442,電源轉換器 9443-02,連接電纜 9444適用于9442, 線長:1.5 m,記錄紙 1196
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